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深圳市世家儀器有限公司

產(chǎn)品中心

主要銷售頻譜分析儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀、信號發(fā)生器、LCR測試儀、示波器、電源、探頭、數(shù)字萬用表、數(shù)據(jù)采集儀、精密源表、功率計、電池測試儀、電阻測試儀等高頻儀器儀表

IM3570阻抗分析儀

  • 型號IM3570
  • 屬性LCR測試儀、阻抗分析儀
  • 分類 HIOKI 日置 > LCR測試儀、阻抗分析儀
  • 品牌HIOKI 日置
  • 描述1臺儀器實現(xiàn)不同測量條件下的高速檢查, 測量|Z|、L、C、R 測量頻率4Hz~5MHz 測量時間:0.5ms 同時進(jìn)行掃頻測量和LCR測量

詳細(xì)介紹 技術(shù)資料

● 1臺儀器實現(xiàn)LCR測量、DCR測量、掃描測量等的連續(xù)測量和高速檢查
● LCR模式下最快1.5ms(1kHz),0.5ms(100kHz)的高速測量
● 基本精度±0.08%的高精度測量
● 適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測量,電感器(線圈、變壓器)的DCR和L-Q的測量
● 分析儀模式下可進(jìn)行掃頻測量、電平掃描測量、時間間隔測量
● 可以用于無線充電評價系統(tǒng)TS2400
● 搭配4ch掃描模塊機架,更能實現(xiàn)2MHz阻抗的4ch測量


 基 本 參 數(shù)