產(chǎn)品中心
主要銷售頻譜分析儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀、信號發(fā)生器、LCR測試儀、示波器、電源、探頭、數(shù)字萬用表、數(shù)據(jù)采集儀、精密源表、功率計、電池測試儀、電阻測試儀等高頻儀器儀表
AFG31000 任意波函數(shù)發(fā)生器
- 型號AFG31021/AFG31051/AFG31022/AFG31052/AFG31101 AFG31151/AFG31102/AFG31152/AFG31251/AFG31252
- 屬性信號發(fā)生器
- 分類 KEITHLEY 吉時利 > 信號發(fā)生器
- 品牌KEITHLEY 吉時利
- 描述采用 InstaView™ 技術(shù)的 AFG31000 系列為內(nèi)置波形發(fā)生應(yīng)用程序、具有已獲專利的實時波形監(jiān)測功能并采用智能用戶界面的首款高性能任意波函數(shù)發(fā)生器。
詳細(xì)介紹 技術(shù)資料
| 型號 | 模擬通道 | 輸出頻率 | 記錄長度 | 采樣率 | 垂直分辨率 |
|---|---|---|---|---|---|
| AFG31021 | 1 | 25 MHz | 16 MSa/通道 | 250 MS/s | 14 位 |
| AFG31051 | 1 | 50 MHz | 16 MSa/通道 | 500 MS/s | 14 位 |
| AFG31022 | 2 | 25 MHz | 16 MSa/通道 | 250 MS/s | 14 位 |
| AFG31052 | 2 | 50 MHz | 16 MSa/通道 | 500 MS/s | 14 位 |
| AFG31101 | 1 | 100 MHz | 16 MSa/通道 | 1 GS/s | 14 位 |
| AFG31151 | 1 | 150 MHz | 16 MSa/通道 | 2 GS/s | 14 位 |
| AFG31102 | 2 | 100 MHz | 16 MSa/通道 | 1 GS/s | 14 位 |
| AFG31152 | 2 | 150 MHz | 16 MSa/通道 | 2 GS/s | 14 位 |
| AFG31251 | 1 | 250 MHz | 16 MSa/通道 | 2 GS/s | 14 位 |
| AFG31252 | 2 | 250 MHz | 16 MSa/通道 | 2 GS/s | 14 位 |
AFG31000 任意波函數(shù)發(fā)生器模擬電路檢定
這是一個模擬世界。 所有物理量均使用模擬信號捕獲和表示。 因此，需要檢定放大器、濾波器和轉(zhuǎn)換器等模擬電路的性能。
InstaView? 技術(shù)避免在阻抗不匹配的 DUT 上增加的波形不確定性
頻率范圍為 25 MHz 至 250 MHz
由于信號保真度高，無需使用外部濾波器或衰減器
由于具有頻率捷變特性且正弦波平坦度經(jīng)過校準(zhǔn)，頻率響應(yīng)測試可以輕松完成
AFG31000 任意波函數(shù)發(fā)生器真實場景信號復(fù)制
傳感器廣泛用于幾乎所有現(xiàn)代化電子設(shè)計領(lǐng)域，從汽車到醫(yī)療器械再到電子消費品。 迄今為止，使用 AFG 捕獲波形并進(jìn)行復(fù)制以便排除故障或驗證一直是極具挑戰(zhàn)的過程。
ArbBuilder 可直接導(dǎo)入多個泰克示波器產(chǎn)品系列保存的 csv 格式的波形
高達(dá) 128 M 點的任意內(nèi)存極大地增加了信號的長度
低噪音本底使信號更為清晰
AFG31000 任意波函數(shù)發(fā)生器函數(shù)驗證和性能檢定
在產(chǎn)品上市前，測試工程師必須進(jìn)行大量測試用例，確保產(chǎn)品滿足技術(shù)規(guī)格。 但是，此過程比較耗時且重復(fù)。
完全可編程，實現(xiàn)自動測試和手動測試的直觀用戶界面
波形序列使用戶在一個序列中序列化所有測試程序
靈活的重復(fù)跳轉(zhuǎn)方法保證高效率
高達(dá) 128 M 點的任意內(nèi)存和內(nèi)置非易失性閃存存儲所有波形和測試程序
AFG31000 任意波函數(shù)發(fā)生器系統(tǒng)與時鐘或脈沖同步
數(shù)字設(shè)計中的所有電路部分按照時鐘速度同時工作。大系統(tǒng)中的所有設(shè)備必須與觸發(fā)信號協(xié)調(diào)，以確保它們正常、可靠地工作。使用 AFG31000 是生成時鐘和觸發(fā)脈沖的有效方法。
脈沖/方波頻率范圍高達(dá) 160 MHz
頻率捷變實現(xiàn)時鐘不同速率的無縫切換
易用的向?qū)дf明指導(dǎo)您完成多臺設(shè)備的同步過程以便增加通道數(shù)
低抖動水平，讓您在觸發(fā)系統(tǒng)時更加自信
AFG31000 任意波函數(shù)發(fā)生器雙脈沖測試
雙脈沖測試是一種用于測量開關(guān)器件參數(shù)和評估 MOSFET 和 IGBT等功率器件動態(tài)性能的方法。雙脈沖測試可測量開啟參數(shù)、關(guān)閉參數(shù)和反向恢復(fù)參數(shù)。
執(zhí)行此測試可：
確保MOSFET 和 IGBT 等功率器件滿足產(chǎn)品規(guī)格書中的規(guī)格
確認(rèn)功率器件或電源模塊的實際值或偏差
在各種負(fù)載條件下測量這些開關(guān)器件的參數(shù)，并在多個設(shè)備上驗證性能
AFG31000 任意波函數(shù)發(fā)生器高級研究和教育
研究人員和教師需要大量信號才能完成研究和教學(xué)工作。 測試可以像一系列的脈沖一樣簡單，模擬 Geiger-Muller 計數(shù)器的輸出，或者像一個長基帶 IQ 一樣復(fù)雜。
InstaView? 技術(shù)避免因連接復(fù)雜負(fù)載上增加輸出波型的不確定性
整合多種特性與功能
雙工作模式均衡易用性和靈活性以便生成最復(fù)雜波形
內(nèi)置的 ArbBuilder 用于在屏幕上直接生成和編輯任意波形
